系統(tǒng)概述:
IGBT作為目前主流的電力半導體開關器件,已廣泛應用于電力電子相關行業(yè),一臺輕巧便攜的測試儀就顯得尤為重要。便攜式IGBT測試儀,是一種全新的功率半導體器件參數(shù)測試儀器,可用于額定電流在2-100A的IGBT和MOS管主要靜態(tài)參數(shù)的測試。儀器與配套電腦連接使用,通過友好人機界面操作,便于各測試參數(shù)的組合、數(shù)據(jù)結果以表格形式呈現(xiàn),具有使用便捷、測試精度高等優(yōu)點,適合于各測試器件使用現(xiàn)場及產(chǎn)線維護場合使用。
測試范圍:
柵極 發(fā)射極 |
Vges:1-40V 分辨率0.1V Iges:0.1-10uA 分辨率0.01uA Vce:0V |
集電極 發(fā)射極 |
Vces:100-3000V 分辨率10V Ices:100uA-5mA 分辨率10uA |
柵極發(fā)射極閾值電壓 |
Vge(th):1-10V 分辨率 0.1V |
集電極/發(fā)射極 飽和電壓 |
Vce(sat):0.2-5V 分辨率0.01V Ice:10-100A 分辨率1A |
二極管 壓降 |
VF:0.01-5V 分辨率0.01V IF:1-100A 分辨率r 1A Vge:0V Vces:100 |
二極管反向可恢復直流電壓 |
Vces:100-3000V 分辨率10V Ices:100uA-5mA 分辨率10uA |
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