shanghai jing cheng xing yi qi yi biao
主營:鋁離子測試包,X光測厚儀,PCB特性阻抗檢測儀,COD水質(zhì)測試包,電鍍膜厚儀,共水水質(zhì)測試包,X光鍍層測厚儀,銅離子測試包
韓國XRF-2000鍍層測厚儀
檢驗電子電鍍鍍層厚度,如銅上鍍銀,銅上鍍鎳,銅上鍍鎳鍍金,鐵上鍍鋅,鐵上鍍鎳,鍍銅,鍍錫,鍍鉻等
X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度,來進行定性和定量分析
韓國XRF2000鍍層測厚儀
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.04-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
全自動臺面,自動對焦,操作非常方便簡單
應(yīng)用實例圖示
(1)單鍍層:Ag/xx |
|
(2)合金鍍層:Sn-Pb/xx |
|
(3)雙鍍層:Au/Ni/xx |
Ag |
|
Sn-Pb |
|
Au |
底材 |
|
底材 |
|
Ni |
|
|
|
|
底材 |
|
|
|
|
|
(4)合金鍍層:Sn-Bi/xx |
|
(5)三鍍層:Au/Pd/Ni/xx |
|
(6)化學(xué)鍍層:Ni-P/xx |
Sn-Bi |
|
Au |
|
Ni-P |
底材 |
|
Pd |
|
底材 |
|
|
Ni |
|
|
|
|
底材 |
|
(1)單鍍層:Ag/xx |
|
(2)合金鍍層:Sn-Pb/xx |
|
(3)雙鍍層:Au/Ni/xx |
Ag |
|
Sn-Pb |
|
Au |
底材 |
|
底材 |
|
Ni |
|
|
|
|
底材 |
|
|
|
|
|
(4)合金鍍層:Sn-Bi/xx |
|
(5)三鍍層:Au/Pd/Ni/xx |
|
(6)化學(xué)鍍層:Ni-P/xx |
Sn-Bi |
|
Au |
|
Ni-P |
底材 |
|
Pd |
|
底材 |
|
|
Ni |
|
|
|
|
底材 |
|
|
免責(zé)申明:以上所展示的信息由企業(yè)自行提供,內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布企業(yè)負責(zé),鋁道網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。為保障您的利益,我們建議您選擇鋁道網(wǎng)的 鋁業(yè)通會員。友情提醒:請新老用戶加強對信息真實性及其發(fā)布者身份與資質(zhì)的甄別,避免引起不必要
風(fēng)險提示:創(chuàng)業(yè)有風(fēng)險,投資需謹慎。打擊招商詐騙,創(chuàng)建誠信平臺。維權(quán)舉報:0571-89937588。