上海益朗儀器有限公司
已認(rèn)證
Shanghai Yilang Instruments Co.,Ltd.
主營(yíng)：涂鍍層測(cè)厚儀,水質(zhì)離子測(cè)試包,離子污染測(cè)試儀,鍍層內(nèi)應(yīng)力測(cè)試儀,表面張力滴重計(jì),哈氏槽,溫濕度記錄儀,輻射測(cè)量?jī)x
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產(chǎn)品描述
Au/Al 臺(tái)式光譜儀用鋁上鍍金層電鍍標(biāo)準(zhǔn)片
高純度的單元素金膜，沉積在鋁基底上�；咨襄兡�(biāo)準(zhǔn)片比箔標(biāo)準(zhǔn)片更堅(jiān)固且通常成本更低，但通常適用于一個(gè)或一種鍍層厚度應(yīng)用。XRF使用基底上鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片來校準(zhǔn)具有與標(biāo)準(zhǔn)片相同或相似基底的樣品上的單層厚度測(cè)試應(yīng)用。如果標(biāo)準(zhǔn)片的基底與測(cè)試樣品的基底不同，請(qǐng)?jiān)谫?gòu)買前標(biāo)準(zhǔn)片之前聯(lián)系您的XRF供應(yīng)商：上海益朗儀器有限公司�；咨襄兡�(biāo)準(zhǔn)片通常安裝在與箔標(biāo)準(zhǔn)片相同的框架中，暴露出標(biāo)準(zhǔn)片的有限區(qū)域用于測(cè)量。
鋁上鍍金層電鍍標(biāo)準(zhǔn)片選購(gòu)指南：
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Au/Al (Gold/Aluminium) Single Layer Coating on Substrates XRF Coating Thickness Standards |
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貨號(hào) |
標(biāo)稱值 |
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SAU10AL999 |
10μin（0.25μm） |
|
SAU20AL999 |
20μin（0.5μm） |
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SAU80AL999 |
80μin（2μm） |
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SAU200AL999 |
200μin（5.0μm） |
以上為常用厚度，如需要特殊厚度或需要其他基材，請(qǐng)聯(lián)系上海益朗儀器有限公司。
注意：
1.對(duì)于小于等于1微米（40μin）的厚度，交貨標(biāo)準(zhǔn)的允許厚度偏差為±10％。
2.如果厚度> 1微米（40μin），則所交付標(biāo)準(zhǔn)的允許層厚度偏差為±15％。
3.均勻度：5％。
4.認(rèn)證厚度不確定度（95％置信區(qū)間）±5％。
定義：
均勻度的定義是：（Z大厚度–Z小厚度）/平均
表示為百分比，其中可以在標(biāo)準(zhǔn)暴露表面的任何位置確定厚度。
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