上海益朗儀器有限公司

已認(rèn)證 天眼查

Shanghai Yilang Instruments Co.,Ltd.
主營(yíng)：涂鍍層測(cè)厚儀,水質(zhì)離子測(cè)試包,離子污染測(cè)試儀,鍍層內(nèi)應(yīng)力測(cè)試儀,表面張力滴重計(jì),哈氏槽,溫濕度記錄儀,輻射測(cè)量?jī)x

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  • Au/Al 臺(tái)式光譜儀用鋁上鍍金層電鍍標(biāo)準(zhǔn)片
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    Au/Al臺(tái)式光譜儀用鋁上鍍金層電鍍標(biāo)準(zhǔn)片高純度的單元素金膜，沉積在鋁基底上。基底上鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片比箔標(biāo)準(zhǔn)片更堅(jiān)固且通常成本更低，但通常適用于一個(gè)或一種鍍層厚度應(yīng)用。XRF使用基底上鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)校準(zhǔn)具有與標(biāo)準(zhǔn)片相同或相似基底的樣品上的單層厚度測(cè)試應(yīng)用。如果標(biāo)準(zhǔn)片的基底與測(cè)試樣品的基底不同，請(qǐng)?jiān)谫?gòu)

    2024-03-28 9990/片
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    Cd/Al臺(tái)式光譜儀用鋁上鍍鎘層電鍍標(biāo)準(zhǔn)片高純度的單元素鎘膜，沉積在鋁基底上。基底上鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片比箔標(biāo)準(zhǔn)片更堅(jiān)固且通常成本更低，但通常適用于一個(gè)或一種鍍層厚度應(yīng)用。XRF使用基底上鍍膜標(biāo)準(zhǔn)片來(lái)校準(zhǔn)具有與標(biāo)準(zhǔn)片相同或相似基底的樣品上的單層厚度測(cè)試應(yīng)用。如果標(biāo)準(zhǔn)片的基底與測(cè)試樣品的基底不同，請(qǐng)?jiān)谫?gòu)買

    2024-03-28 0/片
  • 鋁基涂鍍層測(cè)厚儀 LZ-990
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    CoatingThicknessTester鋁基涂鍍層測(cè)厚儀LZ-990特點(diǎn)雙功能涂鍍層測(cè)厚儀LZ-990“ESCAL”雙功能涂鍍層測(cè)厚儀集成了價(jià)格合理的小型傳感器具有自動(dòng)基材判斷功能測(cè)量范圍為0-2000?m1000個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，具有統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能規(guī)格測(cè)量方法同時(shí)

    2024-03-28 6800/臺(tái)
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    內(nèi)置打印功能的鐵基鋁基測(cè)厚儀KettL-500產(chǎn)品概要：內(nèi)置打印機(jī)數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能可根據(jù)需要選配探頭主要規(guī)格：測(cè)量方法電磁感應(yīng)式或渦流式測(cè)量對(duì)象磁性金屬上的非磁性涂層或非磁性金屬上的絕緣涂層測(cè)量范圍電磁感應(yīng)式(EP-100/EP-110/EP-1

    2024-03-28 39999/臺(tái)
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    鋁基鍍層電解測(cè)厚儀 TH-11

    電解測(cè)厚儀ThicknessTesterTH-11TH-11是一種破壞性測(cè)量?jī)x器，可用于電鍍質(zhì)量控制等，并且可以測(cè)量各種電鍍類型。規(guī)格參數(shù)：產(chǎn)品型號(hào)：TH-11測(cè)量方式：庫(kù)侖法測(cè)量面積：5mm2、/10mm2（可選的2mm2）測(cè)量范圍：0.05-400.0μm

    2024-03-28 68000/臺(tái)
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