CHELLESON SCIENTIFIC INSTRUMENTS COMPANY
主營:熱分析儀,X熒光分析儀,X射線鍍層測厚分析儀,能量色散型X射線熒光分析儀,原子吸收光譜儀,ICP-OES,紫外-可將光分光光度計,固體TOC分析儀
概要:
是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計?梢詼y定結(jié)構(gòu)部件有凹凸的樣品和印刷基板等大面積樣品。對照采用激光射線的Z軸方向的焦點,可以發(fā)揮測定值的再現(xiàn)性。而且物美價廉。
特長:
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1.操作非常簡單。
2.運用激光焦點的功能,簡單的調(diào)整位置。
3.針對有凹凸的樣品也搭載了放心的防止沖突傳感器。 4.搭載焦點切換機構(gòu),可以對高的樣品的低部分進行測定。(任意選擇) 5.采用可以測定大型打印基板的狹小間隙機構(gòu)。
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