CHELLESON SCIENTIFIC INSTRUMENTS COMPANY
主營:熱分析儀,X熒光分析儀,X射線鍍層測(cè)厚分析儀,能量色散型X射線熒光分析儀,原子吸收光譜儀,ICP-OES,紫外-可將光分光光度計(jì),固體TOC分析儀
概要:
是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測(cè)量計(jì)?梢詼y(cè)定結(jié)構(gòu)部件有凹凸的樣品和印刷基板等大面積樣品。對(duì)照采用激光射線的Z軸方向的焦點(diǎn),可以發(fā)揮測(cè)定值的再現(xiàn)性。而且物美價(jià)廉。
特長:
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1.操作非常簡單。
2.運(yùn)用激光焦點(diǎn)的功能,簡單的調(diào)整位置。
3.針對(duì)有凹凸的樣品也搭載了放心的防止沖突傳感器。 4.搭載焦點(diǎn)切換機(jī)構(gòu),可以對(duì)高的樣品的低部分進(jìn)行測(cè)定。(任意選擇) 5.采用可以測(cè)定大型打印基板的狹小間隙機(jī)構(gòu)。
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