X射線鍍層厚度測定儀--SFT-110

        日本精工電子有限公司的子公司精工電子納米科技有限公司推出配備自動定位功能的[X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110]，使操作性進一步提高。
　　對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可保證產(chǎn)品的功能及品質(zhì)，降低成本。精工從1971年首次推出非接觸、短時間內(nèi)可進行高精度測量的X射線熒光鍍層厚度測量儀以來，已經(jīng)累計銷售6000多臺，得到了國內(nèi)外鍍層厚度、金屬薄膜測量領(lǐng)域的高度關(guān)注和支持。
　　為了適應(yīng)日益提高的鍍層厚度測量需求，精工開發(fā)了配備有自動定位功能的X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110。通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數(shù)秒內(nèi)對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。
　　近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區(qū)的高精度測量的需求日益增多。SFT-110實現(xiàn)微區(qū)下的高靈敏度，即使在微小準直器(0.1、0.2mm)下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且，配備有新開發(fā)的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質(zhì)也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應(yīng)更廣泛的應(yīng)用需求。
　

特點

即放即測！
通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準觀察樣品焦點。
　

10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！
以的設(shè)計實現(xiàn)微小區(qū)域下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。

無標樣測量！
將薄膜FP軟件進一步擴充，即使沒有厚度標準物質(zhì)也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。

通過廣域觀察系統(tǒng)更方便選擇測量位置！
通過廣域觀察系統(tǒng)，能夠從畫面上的樣品整體圖（250×200mm）中方便地指定測量位置。