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顯微鏡LW200-48JFB儀器用途：具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人的日常習慣，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質。大于3微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、lcd基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、痕跡，都
2010-09-27 /