shanghai jing cheng xing yi qi yi biao
主營(yíng):鋁離子測(cè)試包,X光測(cè)厚儀,PCB特性阻抗檢測(cè)儀,COD水質(zhì)測(cè)試包,電鍍膜厚儀,共水水質(zhì)測(cè)試包,X光鍍層測(cè)厚儀,銅離子測(cè)試包
工作方法:
通過(guò)CCD鏡頭觀察快速無(wú)損測(cè)試鍍層膜厚
測(cè)量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
應(yīng)用:
測(cè)量工件、PCB及五金、連接器、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。
只需要10-30秒即可獲得測(cè)量結(jié)果, 測(cè)量產(chǎn)品直徑大于0.4mm
測(cè)量范圍:0.03-35um;
可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
X-RAY膜厚測(cè)試儀,X射線鍍層測(cè)厚儀,金屬鍍層測(cè)厚儀,X熒光電鍍膜厚儀
原理:
X射線或粒子射線照射后,由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。
從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài),此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)
而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。
熒光X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度
來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。
應(yīng)用:
測(cè)量工件、PCB及五金、連接器、半導(dǎo)體等產(chǎn)品的各種金屬鍍層的厚度。
只需要10-30秒即可獲得測(cè)量結(jié)果, 測(cè)量產(chǎn)品直徑大于0.4mm
測(cè)量范圍:0.03-35um;
可測(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度
X-RAY膜厚測(cè)試儀,X射線鍍層測(cè)厚儀,金屬鍍層測(cè)厚儀,X熒光電鍍膜厚儀
X-RAY膜厚測(cè)試儀韓國(guó)XRF-2020測(cè)厚儀
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