高低溫耐寒老化試驗箱高低溫環(huán)境倉

高低溫耐寒老化試驗箱|高低溫環(huán)境倉主要是針對于電工,電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫,低溫的環(huán)境下貯存,運輸,使用時的適應(yīng)性試驗。本試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫,高溫,條件下,對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計,改進,鑒定及出廠檢驗用。

設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)

GB 10589 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 10592 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則