高低溫耐寒老化試驗(yàn)箱高低溫環(huán)境倉(cāng)

高低溫耐寒老化試驗(yàn)箱|高低溫環(huán)境倉(cāng)主要是針對(duì)于電工,電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫,低溫的環(huán)境下貯存,運(yùn)輸,使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶(hù)自定要求,在低溫,高溫,條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì),改進(jìn),鑒定及出廠(chǎng)檢驗(yàn)用。

設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)

GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則