供應德國EPK公司新型鋁氧化膜測厚儀

創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理）技術(shù)提升了測量的性　-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用　-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯　SIDSP技術(shù)-全球，智能數(shù)字化的涂層測厚探頭　MINITEST700優(yōu)點一覽：　-SIDSP使測量不受干擾，測值更加　-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST740探頭可由內(nèi)置換為外置）　-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤　-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤　-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線　-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)　-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出　-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)　-菜單指引操作，25種語言可選　-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC　-可下載更新軟件　標準配置：　推薦配件：　帶塑料手提箱或防塵套，內(nèi)含：　-F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架　-MINITEST720(內(nèi)置探頭)　--或MINITEST730（外置探頭）　--或MINITEST740主機（不含探頭，有各種探頭可選）　-校準套裝含校準片和零板　-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語　-2節(jié)AA電池　技術(shù)數(shù)據(jù)表　MINITEST740主機用SIDSP探頭探頭特性　F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5　F2　F5，N2.5，F(xiàn)N5　F15　F　N　F　F　N　F　測量范圍　0-1.5mm　0-0.7mm　0-2mm　0-5mm　0-2.5mm　0-15mm　使用范圍　小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用　粗糙表面　標準探頭，使用廣泛　厚涂層測量原理　磁感應　電渦流　磁感應　磁感應　電渦流　磁感應信號處理　探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）度　±（1μm+0.75%讀值）　±（1.5μm+0.75%讀值）　±（5μm+0.75%讀值）重復性　±（0.5μm+0.5%讀值）　±（0.8μm+0.5%讀值）　±（2.5μm+0.5%讀值）低端分辨率　0.05μm　0.1μm　1μm　小曲率半徑（凸）　1.0mm　1.5mm　5mm　小曲率半徑（凹，外置探頭）　7.5mm　10mm　25mm　小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）　30mm　30mm　30mm　小測量面積　Φ5mm　Φ10mm　Φ25mm　小基體厚度　0.3mm　40μm　0.5mm　0.5mm　40μm　1mm　連續(xù)模式下測量速度　每秒20個讀數(shù)單值模式下大測量速度　每分鐘70個讀數(shù)　主機型號特性　MINITEST720　MINITEST730　MINITEST740　探頭類型　內(nèi)置探頭　外置探頭　內(nèi)置外置可換數(shù)據(jù)記憶組數(shù)　10　10　100　存儲數(shù)據(jù)量　多10,000個　多10,000個　多100,000個統(tǒng)計值　讀值個數(shù)，小值，大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設(shè)置/自由配置）校準程序符合國際標準和規(guī)范　ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準校準模式　出廠設(shè)置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值極限值監(jiān)控　聲、光報警提示超過極限測量單位　um，mm，cm；mils，inch，thou　操作溫度　-10℃-60℃　存放溫度　-20℃-70℃　數(shù)據(jù)接口　IrDA1.0（紅外接口）電源　2節(jié)AA電池標準　DINENISO1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840　ASTMB244，B499，D7091，E376　AS3894.3，SS184160，SSPC-PA2　體積　157mmx75.5mmx49mm　重量　約175g　約210g　約175g（內(nèi)置）/230g（外置）