CMOS全譜光譜分析儀

一、CMOS全譜光譜分析儀技術(shù)特點(diǎn)

1、儀器光學(xué)系統(tǒng)采用帕型-龍格裝置，高真空，分辨率高、靈敏度高等特點(diǎn)；由于機(jī)刻光柵可以產(chǎn)生較次的光譜，所以選線更具靈活性，從而避免光譜干擾；

2、儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，電子系統(tǒng)高度集成化電路，故障率低；

3、分析速度快、重復(fù)性好、穩(wěn)定性好；

4、可用于多種基體分析： Fe、Co、Cu、Ni、Al、Pb、Mg、Zn、Sn等；

5、采用純中文Windows系統(tǒng)下的操作軟件，操作簡單易懂；

6、計(jì)算機(jī)軟件建有數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)，方便了測量數(shù)據(jù)的查詢與打印，也可通過網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程傳輸數(shù)據(jù)，方便快捷；

7、各項(xiàng)系統(tǒng)供電，組成單元，使用方便，維護(hù)簡單；

8、采用光學(xué)部分恒溫措施，保證了儀器的正常運(yùn)行，從而降低了對環(huán)境的要求；

9、加、改變元素通道，通過軟件設(shè)置就可以，無須添加任何硬件，省心、省時(shí)、省錢

10、分析速度快捷，30秒內(nèi)測完所有通道的元素成分。針對不同的分析材料，通過設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及標(biāo)線，使儀器用較短的時(shí)間達(dá)到好的分析效果；

11、光譜儀光學(xué)系統(tǒng)采用真空、恒溫光室， 激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光室，實(shí)現(xiàn)光路直通,消除了光路損耗，提高檢出限，測定結(jié)果準(zhǔn)確，重現(xiàn)性及長期穩(wěn)定性較佳；

12、自動(dòng)光路校準(zhǔn)，光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線掃描，確保接收的正確性，免除繁瑣的波峰掃描工作。儀器自動(dòng)識別特定譜線，與原存儲線進(jìn)行對比，確定漂移位置，找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測定；

13、式的電架設(shè)計(jì)，可以調(diào)整的樣品夾，便于各種形狀和尺寸的樣品分析；

14、工作曲線采用標(biāo)樣，預(yù)做工作曲線，可根據(jù)需要延伸及擴(kuò)展范圍，每條曲線由多達(dá)幾十塊標(biāo)樣激發(fā)生成，自動(dòng)扣除干擾；

15、激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料；

16、固態(tài)吸附阱，防止油氣對光室的污染，提高長期運(yùn)行穩(wěn)定性；

17、合理的氬氣氣路設(shè)計(jì)，使樣品激發(fā)時(shí)氬氣沖洗時(shí)間縮短，為用戶節(jié)省氬氣，氬氣消耗不到普通光譜儀的一半；

18、高性能DSP及ARM處理器，具有速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀況。

二、CMOS全譜光譜分析儀參數(shù)

2.1光學(xué)系統(tǒng)

光學(xué)結(jié)構(gòu)：帕邢-龍格結(jié)構(gòu)的全譜光學(xué)系統(tǒng)

波長范圍：160-680nm

光柵焦距：350nm

光柵刻線：3600/mm

一級光譜線色散率：1.1 nm/mm

光電檢測器：多塊高性能線陣CMOS

2.2 激發(fā)臺

本激發(fā)臺采用沖氬式，噴射式電結(jié)構(gòu)，帶有自動(dòng)吹掃功能。激發(fā)臺開孔尺寸13mm。

2.3 激發(fā)光源

類型：全數(shù)字式火花激發(fā)光源

頻率：100-1000Hz

放電電流：脈沖1-400A

2.4 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)

ARM處理器，高速數(shù)據(jù)同步采集處理，基于DM9000A的以太數(shù)據(jù)傳輸。