LED燈具壽命快速評估系統(tǒng)

JT/LA-I-G大型LED燈具快速壽命評估系統(tǒng)

快速的結溫測量與壽命評估

l 壽命評估耗時：48小時以內(nèi)

l 壽命評估精度：±10%

l 結溫測量精度：±2℃

l 環(huán)境模擬精度：±1℃

現(xiàn)有技術弊端

結溫是影響LED燈具壽命的關鍵因素。由于整燈中LED芯片已被外殼完全固定和包裹，傳統(tǒng)的接觸式測試方式無法測量其結溫，必須破壞燈具才能完成；而傳統(tǒng)的LED燈具壽命測量方法需要上千小時的高溫老化，成本極高且費時費力；受到加工、裝配、工藝等的影響，芯片、模組的工況與整燈完全不同，若將兩者數(shù)據(jù)等同，是很不科學的。

技術突破

本設備為國內(nèi)外首套集高精度結溫測量和快速壽命評估為一體，在對樣品不產(chǎn)生任何破壞的前提下進行結溫測量和燈具壽命評估，可在48小時內(nèi)獲得樣品在任意環(huán)境溫度（+5℃ ~ +125℃）工作時的結溫和壽命；采用光學法測量，尤其適合對采用單晶片LED的燈具進行結溫測量和壽命評估；測試精度高，結溫精度±2℃，壽命精度±10%。

測試原理

結溫的變化將導致LED發(fā)光光譜的峰值出現(xiàn)變化。因此，通過檢測不同溫度點下LED發(fā)光光譜中峰值，獲得峰值波長與結溫的相關曲線，再測得樣品在某溫度工作下的峰值并代入曲線中即可得到樣品在該環(huán)境溫度下工作時的結溫。本系統(tǒng)采用進口光譜儀，精度高，可靠性強。光學法尤其適用于采用了單晶片封裝的LED及其模組和整燈。

 

 

適用范圍

l 系統(tǒng)自帶夾裝平臺和各種夾具，經(jīng)組合后可測量路燈、工礦燈、隧道燈、日光燈、汽車燈等大、中、小各式LED燈具，樣品尺寸可達1100×600×400（單位mm），樣品重量可達50Kg；

l 除整燈外還可可測量各種LED模組、芯片

l 可同時為8個樣品獨立供電，一次可同時測量多個樣品，互不影響，大大提高檢測效率；

l 尤其適用于采用了單晶片封裝的LED及其模組和整燈；

l 可測量樣品在任意環(huán)境溫度（+5℃ ~ +125℃）下工作時的結溫和壽命；

l 提供環(huán)境模擬和LED光譜測試、電參數(shù)測試。

系統(tǒng)主要技術參數(shù)

系統(tǒng) 參數(shù)	型號	JT/LA-I
	外形尺寸	3100 mm×4000 mm×2680 mm
	樣品尺寸	1100 mm×600 mm×400 mm
	樣品重量	50Kg
	器件結溫測試方法	光學法
	結溫測量精度	±2℃
	總功率	23.5 KW
	溫度調(diào)節(jié)范圍	+5℃～+125℃
	溫度控制精度	±2℃
	環(huán)境模擬系統(tǒng)供電電源	380V±10%,50Hz±1三相四線+接地線，保護接地電阻＜4Ω
	測試系統(tǒng)供電電源	220V±10%,50Hz±1帶接地線，保護接地電阻＜4Ω
光學測量系統(tǒng)	波長范圍	200 nm -1100 nm
	分辨率	0.025-20 nm
	光譜儀的積分時間	10毫秒至10分鐘
	采樣速度	3.7毫秒/每次掃描
	數(shù)據(jù)傳輸速度	3.7 ms