產(chǎn)品描述
深圳市金東霖科技有限公司是長期專注于儀器、儀表領(lǐng)域。本公司倡導(dǎo)&ldquo專業(yè)、務(wù)實、高效、創(chuàng)新&rdquo的企業(yè)精神，具有良好的內(nèi)部機制。優(yōu)良的工作環(huán)境以及良好的激勵機制，吸引了一批高素質(zhì)、高水平、高效率的人才。擁有完善的技術(shù)研發(fā)力量和成熟的售后服務(wù)團隊。我們的宗旨是：&ldquo用服務(wù)與真誠來換取你的信任與支持，互惠互利，共創(chuàng)雙贏！&rdquo我公司愿與國內(nèi)外各界同仁志士竭誠合作，共創(chuàng)未來！
膜厚儀性能，可測量任一測量點，小可達0.025 x 0.051毫米。能夠測量
包含原子序號13至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的
成份百分含量可同時測定多5層、15 種元素。 度領(lǐng)先于世界，到
0.025um (相對與標準片)
數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析
報告格式要求 ；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等
。 統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相
對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、XbarR圖等多種
數(shù)據(jù)分析模式。 XULM X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品
；
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- 深圳市金東霖科技有限公司
- 經(jīng)營模式：貿(mào)易商
- 主營：膜厚測試儀,鍍層膜厚測試儀,半導(dǎo)體膜厚測試儀,鍍金膜厚儀
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