供應(yīng)博曼鍍層膜厚測試儀

博曼鍍層膜厚測試儀結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測試面積的檢測需求。
電制冷固態(tài)探測器確保極佳的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結(jié)果可到ppm級，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。
您可以針對您的應(yīng)用選擇合適的分析模型：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。
博曼鍍層膜厚測試儀的主要特點(diǎn)包括：
成本低、快速、非破壞的分析
可完成至多4層鍍層（另加底材）和15個元素的鍍層厚度測試，自動修正X射線重疊譜線
卓越的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鋁（原子序數(shù)13號）到鈾（92號）各元素 測厚行業(yè)20年知識和經(jīng)驗(yàn)的積淀.
博曼鍍層膜厚測試儀可實(shí)現(xiàn)如下測試要求：
符合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
符合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
至多同時分析25種元素
經(jīng)實(shí)踐驗(yàn)證、堅固、耐用的設(shè)計，可在絕大多數(shù)嚴(yán)苛的工業(yè)條件下使用。
空間占用小 –節(jié)約寶貴的工作臺空間，也可近產(chǎn)線放置。
計算機(jī)提供USB和以太網(wǎng)接口用于連接打印機(jī)、光驅(qū)和網(wǎng)絡(luò)。

1898年11月8日，倫琴發(fā)現(xiàn)了X射線，從此無損檢測技術(shù)開始發(fā)生了質(zhì)的變革。它使固體內(nèi)部的缺陷得以直觀地顯現(xiàn)出來。X射線是一束光子流。在真空中，它以光速直線傳播，本身不帶電，故不受電磁場的影響。具有波粒二象性。從物理學(xué)中，我們知道，凡具有加速度的帶電粒子都會產(chǎn)生電磁輻射。因此當(dāng)電子在高壓電場的作用下，高速運(yùn)動時，突然撞擊到靶面，（會產(chǎn)生很大的負(fù)加速度）從而形成了所謂的韌致輻射。簡單地說，它是由高速運(yùn)動的電子撞擊靶面而產(chǎn)生的。另一方面，當(dāng)電子的動能足夠大時，將會把靶面原子的內(nèi)層電子轟擊出來，在原位置形成孔穴，而此刻，外層的電子（位于高能級）產(chǎn)生躍遷以填補(bǔ)該孔穴。同時，它將多余的能量以X射線的形式放出，形成所謂的標(biāo)識X射線。標(biāo)識射線的波長是不連續(xù)的。它取決于靶面的材料。通常用于對材料的化學(xué)成分進(jìn)行定性分析。在無損檢測探傷中，一般用前者。