安鉑AUT1H超聲波穿透涂層測厚儀

安鉑AUT-1超聲波測厚儀不同于市面上普通的測厚儀，此款測厚儀是安鉑科技設(shè)計(jì)出的包含多種功能的高等測厚儀，存儲容量大，測量更穩(wěn)定，并且可以導(dǎo)入電腦進(jìn)行多種檢驗(yàn)功能滿足大多數(shù)客戶的檢驗(yàn)要求。AUT-1H在AUT-1的基礎(chǔ)上增加了穿透涂層的功能。

AUT-1H主要功能：

0.1mm分辨率，128×64點(diǎn)陣圖形液晶屏，可存儲500個(gè)厚度值，高/低限啟動(dòng)緊急信號，較小值捕獲，兩點(diǎn)校準(zhǔn)，V路徑校正，毫米/英寸，EL背光，中/英文界面，穿透涂層功能。

 

高/低限啟動(dòng)緊急信號：可設(shè)定厚度上下限，測量結(jié)果超過上下限即開始啟動(dòng)緊急信號，是質(zhì)檢的好幫手！

 

較小值捕獲：儀器可自動(dòng)捕獲測量結(jié)果的較小值。

 

兩點(diǎn)校準(zhǔn)：相比其他國產(chǎn)儀器的一點(diǎn)校準(zhǔn)，測量結(jié)果更準(zhǔn)確！

 

超聲波穿透涂層測厚儀AUT-1H技術(shù)參數(shù)：

工作原理

脈沖～回波方式（標(biāo)準(zhǔn)模式，用于普通厚度測量）

回波～回波方式（涂層模式，用于不去除油漆層的基材凈厚度測量）

 

測量范圍

0.8～300mm（標(biāo)準(zhǔn)模式）

3～18mm    (涂層模式)

取決于所用探頭、所測材料、表面狀況

見附表

 

單位和顯示分辨率

毫米0.1

英寸0.001

 

探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)

一點(diǎn)校準(zhǔn)（用于常規(guī)的厚度測量）

兩點(diǎn)校準(zhǔn)（測量曲面壁厚或特殊應(yīng)用時(shí)，可顯著提高測量精度）

 

V路徑修正

自動(dòng)V聲程修正，補(bǔ)償雙晶探頭的非線性度

 

示值誤差

±0.1mm  (10mm以下)

±（1%H +0.1）mm  (10mm以上)

注：H為被測物厚度

 

重復(fù)性

±0.05mm

 

顯示屏

128×64點(diǎn)陣液晶屏（42×57毫米）

具有EL背光，可調(diào)節(jié)對比度

厚度值數(shù)字高度可達(dá)13.75毫米

 

測量刷新頻率

常規(guī)測量時(shí)4Hz，較小值掃查時(shí)25Hz

 

材料聲速范圍

1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us

 

數(shù)據(jù)存儲

劃分5個(gè)數(shù)組，可存儲500個(gè)厚度值

 

工作語言

中文、英文

 

電源

兩節(jié)1.5V  AA電池

當(dāng)電池電量不足時(shí)，有低電壓提示

 

操作時(shí)間

兩節(jié)5號電池，使用時(shí)間可達(dá)200小時(shí)

 

自動(dòng)關(guān)機(jī)

5分鐘無操作后自動(dòng)關(guān)機(jī)

 

工作溫度

-10℃～+50℃，有特殊要求可達(dá)-20℃

 

尺寸

149mm×73mm×32mm (H×W×D)

 

重量

含電池200g

 

標(biāo)準(zhǔn)配置

測厚儀主機(jī)

標(biāo)配探頭

儀器箱

兩節(jié)堿性電池

耦合劑

操作手冊

合格證

裝箱單

 

選配件

橡膠外套；眾多可供選擇的探頭；校準(zhǔn)用階梯試塊；耦合劑及高溫耦合劑

 

操作方法

1.單點(diǎn)測量法：在被測體上任一點(diǎn)，利用探頭測量，顯示值即為厚度值。

2.兩點(diǎn)測量法：在被測體的同一點(diǎn)用探頭進(jìn)行二次測量，在二此測量中，探頭的分割面成90度，較小值為厚度值。

3.多點(diǎn)測量法：在直徑約為30 mm的圓內(nèi)進(jìn)行多次測量，取其較小值為厚度值。

4.連續(xù)測量法：用單點(diǎn)測量法，沿指定線路連續(xù)測量，其間隔不小于5 mm ，取其中較小值為被測體厚度值。

 

注意事項(xiàng):

1、應(yīng)避免儀器及探頭受到強(qiáng)烈震動(dòng)；

2、避免儀器置于過于潮濕的環(huán)境中；

3、插拔探頭時(shí)，應(yīng)捏住活動(dòng)外套沿軸線用力，不可旋轉(zhuǎn)探頭，以免損壞探頭電纜芯線。

4、油、灰塵的附著會(huì)使探頭線逐漸老化、斷裂，使用后應(yīng)清除纜線上的污垢。

測量中注意事項(xiàng)

1、測量時(shí)，只有出現(xiàn)耦合圖標(biāo)并穩(wěn)定時(shí)，才是良好的測量；

2、若被測體表面有大量耦合劑時(shí)，當(dāng)探頭離開被測體表面時(shí)，耦合劑會(huì)引起誤測。因此測量結(jié)束時(shí)，應(yīng)迅速將探頭移開被測體表面。