檢測誤差 :
2%
元素分析范圍 :
從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍 :
1PPm到99.99%
鍍層檢測厚度范圍 :
0.05-40μm
能量分辨率 :
129±5eV
檢測誤差 :
2%
元素分析范圍 :
從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍 :
1PPm到99.99%
鍍層檢測厚度范圍 :
0.05-40μm
能量分辨率 :
129±5eV
技術(shù)性能及指標:
元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U);
元素含量分析范圍為1PPm到99.99%;
測量時間:100-300秒(可調(diào));
同時分析鍍層層數(shù):多達3層
鍍層檢測厚度范圍:0.05-40μm(視材料類型而有所不同)
采用微聚焦準直技術(shù),小可達Ф0.5mm,應對小樣品和不規(guī)則樣品測試輕松自如。
RoHS指令有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br)其檢出限高達1PPM,Cl高達50PPM;
探測器:美國電致冷SDD半導體探測器,能量分辨率:129±5eV;
高壓系統(tǒng) :50KV/1mA;
X光管:50W,鈹窗,50kV/1000uA。
產(chǎn)品特點
EDX8300H配備抽真空,更好地應對RoHS、無鹵等環(huán)保指令,配置了真空測試系統(tǒng),增加了元素測試范圍,探測器配備SDD的測試系統(tǒng),特別是提高了Na、Mg、Al、Si等輕元素的檢出限,度提高了,同時在測試Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重復性穩(wěn)定性有了明顯的提高。
整體結(jié)構(gòu)化設(shè)計,儀器美觀大方。
采用美國的SDD探測器,電致冷而非液氮制冷,體積小、數(shù)據(jù)分析準確且維護成本低。
采用自主研發(fā)的SES信號處理系統(tǒng),有效提高峰背比,讓測量更***。
一鍵式自動測試,使用更簡單,更方便,界面更人性化。
七種光路校正準直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品自動切換。
多重防輻射泄露設(shè)計,輻射防護級別屬于同類產(chǎn)品。
優(yōu)化一體化散熱設(shè)計,使整機散熱性能得到更大提高,確保X射線源的運行安全。
***的機芯溫度監(jiān)控技術(shù),確保射線源的***運行,有效延長其使用壽命,降低使用成本。
多重儀器配件保護系統(tǒng),并可通過軟件進行全程監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全。
***真空測試軟件,是否抽真空可自由選擇,真空度實時顯示,標準視窗設(shè)計,界面友好,操作簡便,所有控制均在輕點鼠標之間。
本機采用USB2.0接口,有效保證數(shù)據(jù)準確高速***傳輸。
***的全自動真空系統(tǒng),***屏蔽空氣對輕元素測試的影響,提高了輕元素的檢出限,同時也擴大了檢測范圍。
一體化真空腔體設(shè)計,有效地保證了符合測試要求的真空度,同時提高了設(shè)備的可維性。
抽真空測試和不抽真空測試轉(zhuǎn)換簡單,方便客戶使用;同時開蓋即解除真空,安全、簡單實用。
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