上海鼎徵儀器儀表設備有限公司
GE直探頭:B0.5SL
用于檢測中等尺寸和大尺寸物體,他們由于聲程長(例如大的鍛件或球迷墨鑄鐵)而導致聲波衰減嚴重。他們也適用于檢測具有強聲波吸收特性的塑料材料,為增加靈敏度和分辨率,可以將保護膜去掉。
B2S接觸法直探頭規(guī)格:探頭直徑24mm、頻率0.5MHZ、N=45mm
應用
1一般檢測目的,簡單形狀的大零件
2鍛件,鑄件
3板材,棒材,方型材
4容器,機器零件,殼體
5高溫檢測時帶延遲塊
性能用途
歐款有可更換膜
1在不平整和曲面上增進耦合
2延長探頭壽命
3適于DGS缺陷評定
4可連接高溫延遲塊
5Lemo 1(B..S)或Lemo 00(MB..S)連接端口,標準為側裝,頂裝可選
GE直探頭:B4S
B4S接觸法直探頭規(guī)格:探頭直徑24mm、頻率4MHZ、N=88mm
應用
1一般檢測目的,簡單形狀的大零件
2鍛件,鑄件
3板材,棒材,方型材
4容器,機器零件,殼體
5高溫檢測時帶延遲塊
性能用途
歐款有可更換膜
1在不平整和曲面上增進耦合
2延長探頭壽命
3適于DGS缺陷評定
4可連接高溫延遲塊
5Lemo 1(B..S)或Lemo 00(MB..S)連接端口,標準為側裝,頂裝可選
GE探頭系列:
B0.5SL探頭
B1SL探頭
B1S探頭
B2S探頭
B4S探頭
K1SC探頭
K2SC探頭
K10K探頭
SEB 2探頭
SEB 4探頭
GE斜探頭:MWB45-2
GE斜探頭:MWB60-2
GE連接線:PKLL2
GE連接線:MPKL2
探頭線 MPKM2
探頭線 SEKG2
軟保護膜:ES45
軟保護膜:ES24
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