主營(yíng):北京精微高博公司是集研制、生產(chǎn)、銷售為一體的高新技術(shù)企業(yè)。。目前公司主要致力于粉體材料比表面積和孔徑分布測(cè)試儀器研發(fā)及生產(chǎn),主要產(chǎn)品有JW-04比表面積測(cè)試儀,JW-004兩用型比表面積測(cè)試儀,JW-K孔徑分布及比表面積測(cè)試儀,
JW-004兩用型氮吸附比表面積測(cè)定儀精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、BET法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等,技術(shù)參數(shù)如下:主機(jī)功能:(1)單點(diǎn)及多點(diǎn)BET比表面積測(cè)定,并可測(cè)定吸附常數(shù)C值(2)直接對(duì)比法比表面積快速測(cè)定(3)Lan
2008-04-23 面議JW-K型氮吸附比表面積及孔徑分布分析儀精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、BET法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等,技術(shù)參數(shù)如下:主機(jī)功能:(1)吸(脫)附等溫曲線測(cè)定(2)孔徑分布測(cè)定(3)BET比表面測(cè)定,并可測(cè)
2008-04-23 面議JW-K型氮吸附比表面積及孔徑分布分析儀精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、BET法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等,技術(shù)參數(shù)如下:主機(jī)功能:(1)吸(脫)附等溫曲線測(cè)定(2)孔徑分布測(cè)定(3)BET比表面測(cè)定,并可測(cè)
2008-04-23 面議JW-004兩用型氮吸附比表面積測(cè)定儀精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、BET法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等,技術(shù)參數(shù)如下:主機(jī)功能:(1)單點(diǎn)及多點(diǎn)BET比表面積測(cè)定,并可測(cè)定吸附常數(shù)C值(2)直接對(duì)比法比表面積快速測(cè)定(3)Lan
2008-04-23 面議JW-004兩用型氮吸附比表面積測(cè)定儀精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、BET法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等,技術(shù)參數(shù)如下:主機(jī)功能:(1)單點(diǎn)及多點(diǎn)BET比表面積測(cè)定,并可測(cè)定吸附常數(shù)C值(2)直接對(duì)比法比表面積快速測(cè)定(3)Lan
2008-04-23 面議jw-004兩用型氮吸附比表面積測(cè)定儀精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、bet法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等,技術(shù)參數(shù)如下:主機(jī)功能:(1)單點(diǎn)及多點(diǎn)bet比表面積測(cè)定,并可測(cè)定吸附常數(shù)c值(2)直接對(duì)比法比表面積快速測(cè)定(3)langmuir比表面
2007-11-06 0/JW-004兩用型氮吸附比表面積測(cè)定儀精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、BET法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等,技術(shù)參數(shù)如下:主機(jī)功能:(1)單點(diǎn)及多點(diǎn)BET比表面積測(cè)定,并可測(cè)定吸附常數(shù)C值(2)直接對(duì)比法比表面積快速測(cè)定(3)Lan
2007-11-02 面議JW-K型氮吸附比表面積及孔徑分布分析儀精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、BET法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等,技術(shù)參數(shù)如下:主機(jī)功能:(1)吸(脫)附等溫曲線測(cè)定(2)孔徑分布測(cè)定(3)BET比表面測(cè)定,并可測(cè)
2007-11-02 面議jw-004兩用型氮吸附比表面積測(cè)定儀精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、bet法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等,技術(shù)參數(shù)如下:主機(jī)功能:(1)單點(diǎn)及多點(diǎn)bet比表面積測(cè)定,并可測(cè)定吸附常數(shù)c值(2)直接對(duì)比法比表面積快速測(cè)定(3)langmuir比表面
2007-11-02 0/jw-004兩用型氮吸附比表面積測(cè)定儀精微高博公司研制系列比表面積分析儀、比表面積及孔徑分布儀、bet法比表面積儀、比表面積測(cè)定儀等,技術(shù)參數(shù)如下:主機(jī)功能:(1)單點(diǎn)及多點(diǎn)bet比表面積測(cè)定,并可測(cè)定吸附常數(shù)c值(2)直接對(duì)比法比表面積快速測(cè)定(3)langmuir比表面
2007-11-02 0/