歐姆龍 CJ1W-IC101 模塊現(xiàn)貨

歐姆龍 CJ1W-IC101 模塊現(xiàn)貨
用ASA-VI曲線掃描測試對測試庫尚未涵蓋的器件進(jìn)行比較測試 
由于ASA-VI智能曲線掃描技術(shù)能適用于對任何器件的比較測試，只要測試夾能將器件夾住，再有一塊參照板，通過對比測試，同樣對器件具備較強(qiáng)的故障偵測能力。該功能彌補(bǔ)了器件在線功能測試要受制于測試庫的不足，拓展了儀器對電路板故障的偵測范圍�，F(xiàn)實(shí)中往往會出現(xiàn)無法找到好板做參照的情景，而且待修板本身的電路結(jié)構(gòu)也無任何對稱性，在這種情況下，ASA-VI曲線掃描比較測試功能起不了作用，而在線功能測試由于器件測試庫的不完全，無法完成對電路板上每一個(gè)器件都測試一遍，電路板依然無法修復(fù)，這兒就是電路在線維修儀的局限，就跟沒有包治百病的藥一樣。 
歐姆龍 CJ1W-IC101 模塊現(xiàn)貨
CJ2M-CPU13 R88M-G4K510H-B-Z
CJ2M-CPU31 R88M-G4K510H-OS2-Z
CJ1W-PA205R R88M-G4K510H-O-Z
DRT2-ID16 R88M-G4K510H-S2-Z
DRT2-OD16 R88M-G4K510H-Z
CJ1W-AD041-V1 R88M-G4K510T-BOS2-Z
CJ1W-AD081-V1 R88M-G4K510T-BO-Z
CJ1W-DRM21 R88M-G4K510T-BS2-Z
DCN1-3C R88M-G4K510T-B-Z
CJ1W-IC101 R88M-G4K510T-OS2-Z
CJ1W-II101 R88M-G4K510T-O-Z
CJ1W-ID261 R88M-G4K510T-S2-Z
CJ1W-OD261 R88M-G4K510T-Z
CJ1W-OD232 R88M-G5K020H-BOS2-Z
CJ1W-OD231 R88M-G5K020H-BO-Z
CJ1W-ID231 R88M-G5K020H-BS2-Z
CJ1W-ID232 R88M-G5K020H-B-Z
CJ1W-ID212 R88M-G5K020H-OS2-Z
CS1W-CN713 R88M-G5K020H-O-Z
XWT-ID08 R88M-G5K020H-S2-Z
DRT2-OD08 R88M-G5K020H-Z
XWT-OD08 R88M-G5K020T-BOS2-Z
DRT2-AD04 R88M-G5K020T-BO-Z
ZX-LD40L 2M R88M-GP40030H-B-Z
ZX-LDA11 2M R88M-GP40030H-OS2-Z
ZX-LDA11-01 2M R88M-GP40030H-O-Z
ZX-LDA11-N 2M R88M-GP40030H-S2-Z
ZX-LDA41 2M R88M-GP40030H-Z
ZX-LDA41-01 2M R88M-GP40030T-BOS2-Z
ZX-LDA41-N 2M R88M-GP40030T-BO-Z
ZX-LT001 R88M-GP40030T-BS2-Z
ZX-LT005 R88M-GP40030T-B-Z

?
歐姆龍 CJ1W-IC101 模塊現(xiàn)貨
1X00024H01 5416-351
3A99132G02 5416-352
3A99158G01 5417-032
3A99190G01 5417-040
3A99200G01 5417-173
4D33942G01 5417-175
5A26391H24 5417-176
5X00070G04 5417-413
5X00105G07 5417-417
5X00119G01 5421-112
5X00121G01 5421-123
5X00241G01 5421-178
5X00301G01 5430-856
1C31127G01 5430-929
5X00321G01 5432-039
5X00167G01 5432-157
1B30047G01 5434-334
1C31107G01 5437-027
1C31107G02 5437-051
1C31110G01 5437-076
1C31110G02 5437-077
1C31110G03 5437-078
1C31113G01 5437-079
1C31113G03 5437-080
1C31113G04 5437-081

歐姆龍 CJ1W-IC101 模塊現(xiàn)貨
EFC技術(shù)背景源于電子元器件在各個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用趨于小型化和快速迭代更新。為了應(yīng)對該變化，歐姆龍?jiān)陔娮釉�器件檢查裝置和自動(dòng)化生產(chǎn)線檢測設(shè)備的設(shè)計(jì)和性能優(yōu)化上做出了不懈探索：通過應(yīng)用創(chuàng)新的EFC工藝，使得探針實(shí)現(xiàn)通過單一元器件結(jié)構(gòu)再現(xiàn)復(fù)雜的探針形狀，定制設(shè)計(jì)適用于檢查對象物體的接觸部形狀；與此同時(shí)，歐姆龍還采用了具有較高硬度和彈性的創(chuàng)新材料，讓產(chǎn)品性能得以發(fā)揮