工業(yè)級掃描式熱金屬檢測器

掃描式熱金屬檢驗(yàn)器MSE-PF100

特點(diǎn)：

• 采用較新的微處理器技術(shù)，堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

• 不適用旋轉(zhuǎn)棱鏡，采用電子掃描

• 對達(dá)到和超過300℃的熱金屬實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確可靠的位置檢驗(yàn)

• 采取信號比較技術(shù)-去除背景紅外噪聲干擾

• 測量不受市場內(nèi)局部熱源的影響，不受鏡頭灰塵和現(xiàn)場水汽的影響

• 掃描視場角度為：1°×15°，2°×22°，3°×35°可選

• 采用棒形LED發(fā)光管顯示被測物的位置

• 響應(yīng)時(shí)間1ms，并在1-250ms范圍內(nèi)數(shù)字可調(diào)

• 儀表上電自檢或者可遙控自檢

• 繼電器輸出、光電隔離輸出、晶體管輸出PNP/NPN兼?zhèn)?/p>

• 同時(shí)具備交流AC80-240V和直流DC24V供電接口

• 鑄鋁外殼具有獨(dú)特的吹掃和冷卻功能，風(fēng)冷水冷可選

• MSE-PF100型電子掃描式熱金屬檢驗(yàn)器使用線陣鍺二較管陣列

原理簡介

MSE-PF100型掃描式熱檢利用電子掃描替代傳統(tǒng)的光學(xué)冷靜掃描，省去了對旋轉(zhuǎn)部件的維護(hù)，提高了掃描的可靠性。而傳統(tǒng)的靜態(tài)模擬式熱檢HMD只使用一個(gè)光電二較管單純的檢驗(yàn)超過設(shè)定門檻的紅外信號，容易受到水霧和現(xiàn)場背景熱輻射的影響。

電子掃描式熱檢使用微處理器技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)對棒線材或帶剛頭尾邊緣快速而準(zhǔn)確的檢驗(yàn)，響應(yīng)時(shí)間是數(shù)字可調(diào)的。傳感器后部的LED棒形顯示條既可以顯示被測物的位置，還可以用于準(zhǔn)確調(diào)整各種參數(shù)。

主要技術(shù)參數(shù)

參數(shù)	指標(biāo)	參數(shù)	指標(biāo)
典型應(yīng)用	350℃、10mm棒 從2米處檢驗(yàn)	電源 電壓	24VDC ±15%
	350℃、50mm棒、 從4米處檢驗(yàn)	功率	5VA
檢驗(yàn)器件	電子掃描的 鍺二較管陣列	工作 溫度	-10 - +50℃不用冷卻
掃描速率	1200次/秒		到70℃用空氣冷卻
響應(yīng)時(shí)間	1-250ms 數(shù)字可調(diào)		到80℃用水冷卻
產(chǎn)品較低溫度	300℃	自檢	上電自檢：上電后儀表自檢 遙控自檢：遠(yuǎn)端觸發(fā)，連續(xù)檢驗(yàn)
產(chǎn)品 位置顯示	10個(gè)LED顯示陣列	輸出（1）	繼電器輸出：（常開）240VAC 10A ，20W，4ms響應(yīng)時(shí)間
掃描角度	標(biāo)準(zhǔn)：1oX15o 可選：2oX22o ，3oX35o	輸出（2）	光隔輸出：300VAC 150mA 200mW，2ms響應(yīng)時(shí)間
檢驗(yàn)技術(shù)	采取信號與背景熱輻射強(qiáng)度比較技術(shù)-去除背景紅外噪聲干擾	輸出（3）	NPN&PNP輸出：400mA， 45V.2A峰值

 

儀表外殼和冷卻

材料	AI6鑄鋁，高溫噴塑	冷卻方式	氣冷+空氣吹掃；水冷+空氣吹掃
防護(hù)等級	IEC IP66，DIN 89011	氣壓	5-15PSI，流量：28-140L/min
重量	1.9kg	水壓	5-10PSI,流量：0.2-0.3L/min
電纜接頭	IP65	水溫	環(huán)境溫度低于70℃使用20℃的冷卻水
長度	2米		環(huán)境溫度高于80℃使用5℃的冷卻水

說明：掃描式熱檢既可以采取空氣冷卻也可以水冷卻，無論哪種冷卻方式都可以附加空氣吹掃功能，以保持光路的清潔。

典型應(yīng)用

• 一般應(yīng)用：檢驗(yàn)溫度超過300℃的熱金屬產(chǎn)品

• 對于熱連軋機(jī)：準(zhǔn)確、快速檢驗(yàn)帶頭帶尾位置（用于測長和優(yōu)化剪切）

• 對于棒材和型材：在背景（輥道）熱輻射和棒材的熱輻射非常接近的場合；

• 在水霧、蒸汽經(jīng)常出現(xiàn)的地方，快速檢驗(yàn)熱金屬的頭部和尾部

• 與體積、溫度、形狀無關(guān)，但對熱金屬邊緣檢驗(yàn)要求相當(dāng)高的場合