SEB20雙晶探頭

SEB..和SEB..O°系列探頭特點(diǎn)：        用于探測(cè)棒材、坯塊、桿等中心缺陷的標(biāo)準(zhǔn)探頭。經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中預(yù)期區(qū)域內(nèi)缺陷的探測(cè)（如氣孔、微孔和熱裂縫）。更適合于用作與物體平面平行的缺陷區(qū)域范圍的確定（如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣孔及厚鋼板中的他隔線）。 具體型號(hào)有： SEB1、SEB1-EN、SEB2、SEB2-EN、SEB2- O°、SEB4、SEB4-EN、 SEB4- O°、SEB4-EN- SEB2-EN-O° 德國(guó)KK探頭SEB2-EN雙晶探傷儀直探頭主要應(yīng)用： 通常：近表面的小缺陷探測(cè)和評(píng)估。焦點(diǎn)內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測(cè)。剩余壁厚的測(cè)量（即使在高溫情況下）。 l         壁厚余量，銹蝕、腐蝕 l         近表缺陷檢測(cè) l         小零件—螺釘，螺栓，銷釘 l         覆層和堆焊層 l         粘接檢測(cè) l         軸，桿，方坯芯部缺陷 l         粗晶材料

 

德國(guó)KK探頭SEB2-EN雙晶探傷儀直探頭主要特性： l         近表分辨率極佳 l         與曲面和粗糙面耦合好 l         散射噪聲較小 l         對(duì)曲面工件也能沿其輪廓進(jìn)行檢測(cè) l         歐款有側(cè)裝Lemo 00連接口，SEB..KF型Microdot側(cè)裝 l         美款有固定BNC電纜（ADP）或側(cè)裝MMD（FDU）